Tag Archives: PointProbe® Plus (PPP)

NANOSENSORS PointProbePlusプローブ

走査型プローブ顕微鏡(SPM)および原子間力顕微鏡(AFM)に使われるプローブ/カンチ
レバーには選択に困るほど数多くの種類があります。だからこそ、まずはこれをお使
いくださいとお勧めするのは「シリコン標準プローブ PointProbe®Plus」。「標準」
に求められる高品質と高精度を備え幅広いアプリケーションにご利用頂けます。
https://youtu.be/4eiL8lpQ3fE

PointProbe Plus AFM tip front view
NANOSENSORS PointProbe Plus AFM probe front view

 

NANOSENSORS Q30K-Plus – Silicon AFM probes for UHV applications

Did you already know that NANOSENSORS offers four different kinds of AFM probes especially designed for use in UHV applications?

For high sensitivity and a good signal to noise ratio these probes are featuring a Q-factor of over 30,000 (up to 50,000) under UHV conditions and a high reflectivity (even at wavelength of over 800nm).

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