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Consistent AFM tip shape leading to reproducible results – NANOSENSORS PointProbe Plus Screencast passes 500 views mark

The screencast held by Head of R&D Thomas Sulzbach  on the  NANOSENSORS PointProbe® Plus Silicon AFM probe series  with a consistent tip shape leading to more reproducible results has just passed the 500 views mark.
Congratulations Thomas!

Screencasts on the PointProbe® Plus are also available in Japanese

and in Chinese:

also on youku http://v.youku.com/v_show/id_XNzMyMDg2MjQ4.html

NANOSENSORS PointProbePlusプローブ

走査型プローブ顕微鏡(SPM)および原子間力顕微鏡(AFM)に使われるプローブ/カンチ
レバーには選択に困るほど数多くの種類があります。だからこそ、まずはこれをお使
いくださいとお勧めするのは「シリコン標準プローブ PointProbe®Plus」。「標準」
に求められる高品質と高精度を備え幅広いアプリケーションにご利用頂けます。
https://youtu.be/4eiL8lpQ3fE

PointProbe Plus AFM tip front view
NANOSENSORS PointProbe Plus AFM probe front view