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AFM Probes

35th anniversary of scanning tunneling microscopy, 30th anniversary of atomic force microscopy and … 25 years NANOSENSORS AFM probes

This collection of articles  by Physical review letters marks the 35th anniversary of scanning tunneling microscopy and the 30th anniversary of atomic force microscopy  http://journals.aps.org/prl/scanning-probe-microscopy… Read More »35th anniversary of scanning tunneling microscopy, 30th anniversary of atomic force microscopy and … 25 years NANOSENSORS AFM probes

NANOSENSORS PointProbePlusプローブ

PointProbe Plus AFM tip front view

走査型プローブ顕微鏡(SPM)および原子間力顕微鏡(AFM)に使われるプローブ/カンチ レバーには選択に困るほど数多くの種類があります。だからこそ、まずはこれをお使 いくださいとお勧めするのは「シリコン標準プローブ PointProbe®Plus」。「標準」 に求められる高品質と高精度を備え幅広いアプリケーションにご利用頂けます。 https://youtu.be/4eiL8lpQ3fE