视频介绍 – 铂硅原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ –

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NANOSENSORS公司的吴烨娴博士在本视频中介绍了铂硅原子力显微镜探针。该种探针结合了优良的导电性,高耐磨性和超小型针尖半径为一体,专为导电或静电AFM成像设计。

与传统的导电型AFM针尖比较,它的质地更加地坚硬。和金刚石涂层的AFM针尖比较,铂硅探针的尖端半径只有1/5甚至1/6(~25纳米),而却有其 10倍的导电系数。而且这种探针的磨损率与硅和其他金属涂覆的探针相比显著降低。此外,硅化铂几乎耐受所有类型的化学药品。

http://www.nanosensors.com/Platinum_Silicide.pdf

此款铂硅AFM针尖可适用于
导电原子力显微镜
隧道原子力显微镜
扫描电容显微镜
开尔文探针力显微镜 和
静电力显微镜

需要注意的时,由于此类铂硅针尖的尖端有很高的长径比和很小的曲率半径,此类针尖不适用于表面受力很大的扫描扩展电阻显微镜

视频介绍 – PointProbePlus原子力显微镜探针 – NANOSENSORS™ –

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NANOSENSORS的Pointprobes是第一个商业化量产的硅原子力显微镜探针。从1991年进入市场开始,他们就成为了这一领域的标杆。 PointProbePlus探针在非接触模式和轻敲模式的应用中取得了巨大的成功,并且在此基础上发展出一系列更高端的AFM探针。 PointprobePlus是Pointprobe的增强版,它有着更为一致的针尖形状从而保证了更为可靠的成像结果。 而且针尖的尖端性能进一步提升,其半锥角达到了10度,而尖端半径小于7nm。

基于PointProbePlus针尖,我们提供一些特别定制的AFM探针 。

SuperSharpSilicon探针是在PointProbePlus探针的基础上,通过尖端锐化技术,使其针尖的曲率半径小于2nm。
该探针在特征尺度为几十纳米的样品表面,可以实现最高的分辨率。

High Aspect Ratio tips 高长径比探针是在PointProbePlus的基础上,通过聚焦离子束研磨,在针尖的尖端1到两微米形成超小的锥角。
它们是专为半导体应用中,沟槽或通孔的表征而设计的。

硬磁或软磁性涂料可以把PointProbePlus转变为磁力显微镜探针。

金刚石涂层则可以极大地增加探针的耐磨损性,从而 使针尖样品间作用力很高的测量 成为可能。

另外,掺杂的金刚石针尖是导电的,这种探针也适用于导电测量模式,例如 扫描扩展电阻显微镜。

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Screenshot from the new official corporate blog from NANOSENSORS with news, videos and product documentation.
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This is the official corporate blog of NANOSENSORS, manufacturer of high quality AFM tips and AFM probes for the Atomic Force Microscope. Here we publish news and events, product documentation updates, new videosproducts and the company and updates in Atomic Force Microscopy and Nanotechnology.

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